美国 Pentagon Technologies QIII  SX 表面粒子尘埃粒子计数器

表面尘埃粒子理化分析仪 5-125um

美国 Pentagon Technologies QIII 是一款用于测量和检测机台表面微粒子（SPD）的精密仪器，它采用目前先进的技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在 100um 以下的粒子，这些粒子会快速沉降，逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上，从而减少产品的良率及降低产品的稳定性，QIII SX 表面粒子检测器测量（5~12 5 um）的粒子，对于生产环境的控制，提升产品的良率都起到了很大的作用，能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

优势：

• 快速测量表面颗粒

• 可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量

• 通过快速识别粒子源，减少故障排除时间

• 可以监测物料，来料，以及Parts上的Particle

• 减少PM的周期

• 符合 ISO 14644-9表面粒子操作规范

• 减少粒子相关故障

样本数据

• Particle 测量范围: 5um - 125um

• 粒径通道: 5, 10, 25, 50, 100, 125um

• 激光源: 镭射激光

• 尺寸 & 重量: 3 0 .5 cm X 27cm X 22.8cm, 8.4公斤

• 电池:2块可热插拔锂电池

• 显示: 7” 英寸WVGA触摸屏

• 数据显示: 颗/平方厘米,颗/平方英寸,颗

• 可智能分析测试数据平均值

• 数据输出: USB,以太网, WiFi（选配）

• 探头包含: ½” 英寸直角探头.

• 输入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

• 取样模式: 静态取样和动态取样

• CE认证

• 语言: 英语, 中文, 日文, 韩文

• 美国制造

可选配件

客户需求探头: 可以按照客户需求定制合适的探头.

Part icle收集探头:可以将Particle收集起来

可选额外的电池.